扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）通过高能电子束在样品表面扫描，电子束与样品相互作用产生二次电子、背散射电子、X射线等信号。这些信号被探测器收集并转换为图像，从而呈现样品表面的形貌特征。
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscop，TEM）是一种将高能电子透射过电子透明样品（~100nm 厚）的技术，通过电子与样品的相互作用产生散射和透射电子，形成高分辨率的二维图像。SEM 采用扫描方式，TEM 采用透射方式；而 STEM 结合了两者，将聚焦电子束以光栅模式扫描薄样品，同时检测透射电子。SEM 采用扫描方式，TEM 采用透射方式；而 STEM 结合了两者，将聚焦电子束以光栅模式扫描薄样品，同时检测透射电子。这些图像可用于癌症研究、病毒学、材料科学和其他基础研究。
TEM 和 STEM 比SEM具有更好的空间分辨率。但是，与普通分析工具相比，它通常需要更复杂的样品制备并花费更多时间。所有TEM样品需制备为厚度约100 nm的超薄切片，并保持样品的微观结构完整性。卡梅德科技为客户提供高质量和相对低成本的常规TEM和STEM样品制备。我们的服务可帮助您和您的团队实现您的特定研究目标。
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